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您的位置：網(wǎng)站首頁 > 技術文章 > X熒光分析儀 X熒光分析儀型號：CIT-3000SMD(A)
一、應用領域該儀器是專門為黑色冶金、礦山樣品分析行業(yè)打造的一款針對性強的分析儀器，對原礦、精礦、尾礦、燒結(jié)礦、球團礦、爐渣、生鐵、石灰石等許多樣品可進行多元素快速檢測。
二、性能特點：
♦樣品平臺自動升降，工作十分方便；
♦樣品盤自動旋轉(zhuǎn)，測量面積更大，并能大限度的消除顆粒誤差和不均勻誤差；
♦抽真空測量，可以更大限度的提高測量元素的檢測限，有利于金屬測量以及其他輕元素測量；
♦模塊化設計理念，保證了儀器后續(xù)的高擴展性；
♦采用低功率X光管端窗前直徑更大，對樣品具有更好的激發(fā)效率；
♦更的 Superfast SDD 電制冷半導體探測器，分辨率和計數(shù)率更高，有利于要求更高或更復雜的樣品分析。
三、儀器技術指標(1)測量范圍：1-40kev；
(2)可分析元素范圍：Na-U；
(3)分析含量范圍：1ppm-99.99%；
(4)分辨率：優(yōu)于127Ev；
(5)低檢出限：Pb≤5ppm；
(6)工作環(huán)境溫度：0-40攝氏度；
(7)工作環(huán)境相對濕度：≤80% （不結(jié)露）
(8)測量時間：10-2550s(時間可調(diào)）
(9)輸入電源：AC 220V ±10%，50HZ；
(10)額定功率：300W；
(11)探測器類型：更的 Superfast SDD 探測器；
(12)500萬像素的CDD攝像頭，可有效的實現(xiàn)觀察測試區(qū)域狀況，并拍下物料照片，可作為檢測報告的組成部分；
(13)儀器尺寸：600(W) *570(D) *570(H)mm
(14)樣品腔尺寸：樣品腔：300*300*100 mm
(15)重量：約100Kg
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